X線の光子を直接カウントするフォトンカウンティング技術とマルチスリットスキャニング方式により低線量での検査が可能になった。ノイズ低減と50μｍの高解像度により高精細画像を実現。キーパッドによる操作性向上とSi検出器を採用することで、撮影間の待機時間を大幅に短縮できる。